特殊用途探头

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测厚探头

双晶纵波探头,配套超声波测厚仪,用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块,连接到探头线的两个接口为 C5插座。

  • 产品介绍
  • 功能特点
  • 规格型号
  • 应用领域

双晶纵波探头,配套超声波测厚仪,用于材料厚度值的测量。铝合金外壳、不锈钢内套、有机玻璃延迟块,连接到探头线的两个接口为 C5插座。

频率
(MHz)
型号 接触面直径
(mm)
测量范围
(mm)
配套测厚仪 插座
5 5P10FG-J 14 0.75~500 CTS-400型 双C5插座
5P10FG 1~300
15P10T 13.4 1.2~200 CTS-300型 直接连到测厚仪